美國(guó)吉時(shí)利（Keithley）儀器公司近日宣布將舉辦2010年度新能源與新材料測(cè)試技術(shù)全國(guó)巡回研討會(huì)。巡回研討會(huì)將從9月初開始，在成都、重慶、合肥、南京、哈爾濱、武漢、蘭州舉辦。網(wǎng)絡(luò)報(bào)名即時(shí)啟動(dòng)，詳情請(qǐng)登陸鏈接：http://www.keithley.cn/edm/10/roadshow/pr 。
身為新興測(cè)量需求解決方案領(lǐng)導(dǎo)者，吉時(shí)利長(zhǎng)期致力于不斷推出新產(chǎn)品、新技術(shù)和新方法，以滿足高精度、高速度、高靈敏度和分辨率的測(cè)試測(cè)量需求，成為新工藝、新材料、新產(chǎn)品的質(zhì)量保證。
吉時(shí)利資深技術(shù)應(yīng)用工程師將與出席本次巡展的客戶、合作伙伴和技術(shù)愛好者深入交流如下主要領(lǐng)域的技術(shù)與解決方案：
綠色電子革命中的光電測(cè)試/新能源測(cè)試方案
伴隨光電產(chǎn)業(yè)尤其是光通訊領(lǐng)域技術(shù)與應(yīng)用不斷創(chuàng)新和發(fā)展，對(duì)高精度、低成本、高產(chǎn)能的光電測(cè)試解決方案的需求日益增強(qiáng)。針對(duì)實(shí)現(xiàn)可再生能源的相關(guān)熱點(diǎn)話題，吉時(shí)利技術(shù)專家將在研討會(huì)中重點(diǎn)介紹光電二極管（LIV）測(cè)試系統(tǒng)利用最新的測(cè)試技術(shù)提高測(cè)試產(chǎn)能并降低測(cè)試成本，確保器件的可靠性和質(zhì)量；精密太陽能測(cè)試解決方案，實(shí)現(xiàn)快速而全面的新型太陽能材料特征分析；最新LED測(cè)試系統(tǒng)（和外部機(jī)械手如何配合）以實(shí)現(xiàn)更高的準(zhǔn)確度、可靠性和經(jīng)濟(jì)效益。
新材料的測(cè)試方案
不斷出現(xiàn)的新材料、大功率器件推動(dòng)測(cè)試方式和測(cè)試儀器改變和升級(jí)，高品質(zhì)電氣測(cè)量是新材料和器件的發(fā)展的質(zhì)量保證。吉時(shí)利儀器在為納米技術(shù)提供電氣測(cè)量解決方案領(lǐng)域居世界領(lǐng)先水平，該新興研究領(lǐng)域?qū)殡娮印⒉牧稀⑸锕こ獭⑻娲茉吹榷鄠€(gè)領(lǐng)域帶來巨大進(jìn)步。吉時(shí)利技術(shù)專家將分享其測(cè)量工具如何憑籍無可比擬的性能優(yōu)勢(shì)，幫助納米技術(shù)研究人員觀察到幾年前不可能觀察到的現(xiàn)象，逐步揭開納米領(lǐng)域的奧秘并最終促進(jìn)納米技術(shù)從實(shí)驗(yàn)室研究走向商用產(chǎn)品。研討議題將包括最大限度提高納米材料特征分析能力，霍爾效應(yīng)（Hall Effect）測(cè)量主題，如何確定半導(dǎo)體的參數(shù)，例如載流子移動(dòng)性和載流子濃度、霍爾系數(shù)、以及電導(dǎo)率和導(dǎo)電類型，脈沖材料測(cè)試及MOS典型參數(shù)的測(cè)試方法。
微弱信號(hào)測(cè)量難點(diǎn)與應(yīng)對(duì)方案
吉時(shí)利微弱信號(hào)測(cè)量領(lǐng)域的深厚理論功底和超過六十年的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)，得以為全球高校、公司、政府實(shí)驗(yàn)室提供新材料和新器件領(lǐng)域的研究提供解決方案。針對(duì)如何正確地進(jìn)行微弱信號(hào)測(cè)量，以達(dá)到對(duì)微弱電信號(hào)進(jìn)行捕獲和定量分析目的，本次研討會(huì)重點(diǎn)講授進(jìn)行全面的電子測(cè)試并提高測(cè)試產(chǎn)能所必需的基本測(cè)試原理，更加合理的進(jìn)行微弱信號(hào)測(cè)量，應(yīng)對(duì)測(cè)試中常見的問題和挑戰(zhàn)，例如如何避免噪聲干擾，減小測(cè)試誤差等，及提高測(cè)試質(zhì)量、獲取更精確數(shù)據(jù)、采集更可靠的測(cè)試結(jié)果的方法和技巧。
多路數(shù)據(jù)采集和高速度/高精度測(cè)試方案
針對(duì)電子產(chǎn)品的多樣性和日益增強(qiáng)的測(cè)試要求，靈活、易拓展的多路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，吉時(shí)利數(shù)字萬用表/數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)滿足研發(fā)用戶對(duì)精確度和靈敏度的需要，以及生產(chǎn)過程測(cè)試的高產(chǎn)能需求。本次研討會(huì)將通過典型實(shí)例如電源老化測(cè)試系統(tǒng)及多引腳IC插座測(cè)試系統(tǒng)為您提供高速度高精度測(cè)試解決方案，展示應(yīng)用在研發(fā)實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的吉時(shí)利各種規(guī)格的測(cè)量解決方案，涵蓋從插件板到具有多點(diǎn)測(cè)量與控制功能的外部系統(tǒng)產(chǎn)品。
