【導(dǎo)讀】2015 年 5 月15 日，是德科技公司日前宣布，Solution Sources Programming Inc.（SSP）邊界掃描分析儀Keysight x1149與Keysight i3070 的配套使用，使其在邊界掃描測試上有所突破。SSP 是一家全面測試與測量解決方案的供應(yīng)商。
SSP 共同創(chuàng)辦人兼高級工程經(jīng)理 Eric Harris 表示：“如今先進的測試技術(shù)使傳統(tǒng)在線測試（ICT）的應(yīng)用范圍更為縮減。許多客戶堅信如果電路板接入率降至 50 % 以下，就需要尋找其他在線測試方法。借助現(xiàn)代平臺和夾具技術(shù)，我們可以為客戶提供始終如一的支持，幫助他們挽回失去的測試覆蓋范圍，并最終為他們的合同制造商與合作伙伴提供所需的故障診斷服務(wù)，以確保他們的生產(chǎn)線上不存在制造缺陷。只要搭配合適的工具，一切都會變得簡單。”
11 個 SSP 重點項目均采用了 Keysight x1149 解決方案。解決方案覆蓋了低接入率和零接入率電路板，以及由 50,000 個結(jié)點和超過 9,250 個網(wǎng)格組成的復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)電路板。
高密度網(wǎng)絡(luò)電路板在應(yīng)用傳統(tǒng)在線測試技術(shù)時面臨許多問題。譬如，沒有給最佳測試點提供足夠的物理空間、高速信號傳輸和信號完整性問題，以及單個電路板上有時存在多個邊界掃描鏈。外形小巧的是德科技臺式 x1149 可以輕松地與在線測試系統(tǒng)匹配，它不僅支持功能強大的測試功能組合，具有易用性并且已經(jīng)為產(chǎn)品制造做好準(zhǔn)備。x1149 憑借獨有的 Autobank 故障診斷功能還能夠加快測試速度。
Harris 補充道：“x1149 和 i3070 的結(jié)合給我們帶來了顯著的成果。比如有的客戶的裝配線上有超過 90 個 DDR，使用傳統(tǒng)在線測試方法則會因為測試時間過長而無法進行。而我們的團隊不僅能夠順利完成這些 DDR 在線測試，并且測試時間還不到 60 秒。但傳統(tǒng)方法則要花費超過五分鐘時間。”
除此之外，具有有限測試接入或零測試接入的電路板也能應(yīng)用這類工具進行測試，譬如平板電腦或智能手機。是德科技提供獨家的覆蓋擴展技術(shù) (CET)及其功能強大的硅釘 (Silicon Nails) 邊界掃描功能，這有助于擴大在電路板主要區(qū)域的測試覆蓋范圍。
SSP 總裁兼共同創(chuàng)辦人 Dan Orlando 表示：“我們的電路板有低于 25% 的接入率。通過整合在線測試和 x1149，我們已經(jīng)把測試覆蓋范圍恢復(fù)到了 90%。我們的專業(yè)技術(shù)和工具（例如 x1149）已經(jīng)使得測試覆蓋范圍得到極大改善，并且擴展了全部測試領(lǐng)域中的測試功能——包括平板電腦、SSD 固態(tài)硬盤和服務(wù)器以及網(wǎng)絡(luò) PCBA 等。”
Orlando 補充道：“隨著電路板設(shè)計的復(fù)雜程度加深，SSP 繼續(xù)埋首創(chuàng)新，旨在讓客戶在 Keysight x1149 平臺上更好地運用豐富的邊界掃描技術(shù)。x1149 專為制造測試而設(shè)計。它的圖形用戶界面一目了然且操作簡單，可以讓我們的團隊迅速進行測試開發(fā)和調(diào)試，并在客戶生產(chǎn)線上快速實施電路板測試。不斷推陳出新的工程設(shè)計每一次都在挑戰(zhàn)傳統(tǒng)的生產(chǎn)測試?yán)砟睿屛覀兏械津湴恋氖牵覀冎贫ǖ纳a(chǎn)計劃不僅對客戶的合同制造商有所幫助，而且還能及早查到生產(chǎn)線上的故障，最終保護他們的品牌資產(chǎn)。”
是德科技產(chǎn)品開發(fā)團隊不斷改進 x1149 的測試應(yīng)用功能，并與電子行業(yè)領(lǐng)先企業(yè)密切合作，通過開發(fā)創(chuàng)新的邊界掃描解決方案來增強產(chǎn)品質(zhì)量。
是德科技測量系統(tǒng)事業(yè)部市場營銷和支持總監(jiān) NK Chari 稱：“SSP 將其專業(yè)的測試開發(fā)技術(shù)與 x1149 的擴展邊界掃描測試功能結(jié)合在一起，可使測試覆蓋范圍達到更高的水平。另外，當(dāng)前高度復(fù)雜的 PCBA 所需的測試時間也在大為縮減，包括網(wǎng)絡(luò)和服務(wù)器卡、平板電腦和智能手機等消費類電子產(chǎn)品中的 PCBA。我們?yōu)榭蛻籼峁╇S時可用的應(yīng)用，期待幫助他們更好地進行邊界掃描測試。”
