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如何測試小型存儲器陣列
隨著半導體工藝不斷地進步，那些原本存在芯片中的大型存儲器會轉變成數十或數百個小型的存儲器陣列，并且散布在芯片中各個角落。針對這種類型的小型陣列，如果想要偵測出與速度相關的瑕疵以及固定邏輯(stuck-at)故障，其實并不是一件容易的事。
2012-10-31
測試 小型 存儲器陣列
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相互調變失真的測量方法
在發射(Tx)路徑上的相互調變失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在發射路徑上一般都沒有主動組件存在，因此它的相互調變失真特性被稱為“被動的相互調變失真(passive IMD;PIMD)”。當設計一個無線通信電路時，PIMD在每一個功能單元中的變化不大，所以，在研發階段就會先測量PIMD。
2012-10-31
相互調變失真 測量方法
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是什么影響電阻和電阻率測試
影響電阻或電阻率測試的主要因素有：環境溫濕度、測試電壓、測試時間、測試設備的泄漏以及外界干擾等。本文重點談談上述五大因素。
2012-10-31
影響 電阻 電阻率測試 主要因素
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VIO的開環測試電路
輸入失調電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規定值時，兩輸入端間所加的直流補償電壓”。傳統測試設備大都采用“被測器件(DUT，Device Under Test)－輔助運放”的測試模式。
2012-10-31
VIO 開環測試電路
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COG取代LCD，可減少醫療系統設計成本
液晶顯示器(LCD)在診斷型醫療中的應用日益頻繁，盡管LCD監視器與陰極射線管監視器相比具有很多優勢，但是(COG)技術是LCD設計的替代方法，在該技術中LCD驅動器直接安裝在顯示玻璃上，可為醫療應用提供成本和設計優勢。
2012-10-31
COG LCD 醫療
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眾多專家會診新一代電子產品的雷電浪涌保護難題
新一代電子產品都在向小型化、集成化發展，自然成本也高，對于電子產品的保護就顯得尤為重要，如果你想獲得最前沿、最有效的雷電浪涌防護方案，不妨看看來自Bourns、AEM、歐神防雷、君耀電子、檳城電子以及深波電子的專家在第十三屆電路保護與電磁兼容技術研討會上講解了哪些解決方案與設計訣竅。
2012-10-31
電路保護 電磁兼容 雷電浪涌
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CMOS圖像傳感器飛速提升監控畫質
在目前的監控用高清攝像機產品中，以130萬和200萬像素為主，且200萬及以下像素的產品在傳感器方面以CCD、CMOS平分秋色，200萬像素以上的產品則主要以CMOS為主，但總體而言，高清攝像機在低照度、寬動態方面的表現仍有待提高。
2012-10-31
CMOS 圖像傳感器 監控
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Linear推出支持 IP 的無線傳感器網絡產品
Linear Dust Networks 產品部推出 SmartMesh LTC5800 (片上系統) 和 LTP5900 (模塊) 系列，這是業界功耗最低的 IEEE 802.15.4E 兼容型無線傳感器網絡產品。SmartMesh IC 和模塊使得能夠設計電池壽命超過 10 年的纖巧型傳感器“mote”(微塵)，而配套的網絡管理器組件則可開發出高度穩健和安全的無線...
2012-10-30
Linear 無線傳感器網絡 傳感器
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LED芯片選型的三大指標
隨著LED成本不斷下降，能效不斷提升，LED照明大規模普及對時代就要來臨，LED照明已經成為最熱門對產業話題，由于LED燈具的設計涉及光學、熱學、微電子等多個技術，所以通常LED設計師比較關注燈具的外觀、散熱、驅動電路方面的設計因素，而忽視了LED芯片的選型問題。
2012-10-30
LED 選型 飛利浦
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